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松下、強誘電体メモリーの各結晶記憶能力を1時間で解析へ

1 :依頼あり@二兎追うものφ ★:04/09/15 20:19:51 ID:???
 松下電器産業は、強誘電体メモリーの結晶ごとのデータ記憶能力を短時間に
評価できる技術を開発した。記憶能力の高い結晶だけを集めて作成することも
できるようになることから、チップサイズを従来の9分の1に小型化できる。06年
の実用化を目指す。

 電子線を使うことにより、強誘電体メモリーを構成している結晶を20ナノメートル
単位で評価できる技術を確立した。これにより、記憶能力の高い結晶を瞬時に
見分けることが可能になった。解析時間は1時間で済む。従来のX線を使った方法
では50マイクロメートル単位での評価だったので、解析に数日かかっていた。

 現在、配線幅0・18マイクロメートルのLSIに搭載しているが、記憶能力の高い
結晶だけを集めることで65ナノメートルに対応できるようになるという。

ここもなー★
http://www.nikkan.co.jp/hln/nkx01.html#KY15008


2 :名無しのひみつ:04/09/15 20:20:50 ID:zWWI1Hom
4sama kinshi

3 :名無しのひみつ:04/09/15 20:30:12 ID:HShzxmjZ
4樣が優しくほほえみながら3ゲット。   


4 :名無しのひみつ:04/09/15 20:43:22 ID:afmdAKoT
なんか、泥臭いな。記憶能力の高い結晶を効率的に生産できれば問題なし

5 :名無しのひみつ:04/09/15 21:15:37 ID:MAruXSID
よくやった。

6 :名無しのひみつ:04/09/15 21:46:01 ID:HLAjbDcF
すげー!

7 :名無しのひみつ:04/09/15 21:53:32 ID:ceZVEsF9
誰か簡単に僕に説明してください

8 :名無しのひみつ:04/09/16 23:48:54 ID:0SKcB7P5
>>1
>  現在、配線幅0・18マイクロメートルのLSIに搭載しているが、記憶能力の高い
> 結晶だけを集めることで65ナノメートルに対応できるようになるという。

LSIプロセスの評価手法を開発したってニュースからなぜその結びになるのか全然解らん。
そもそもLSI上に形成済みの結晶を「集める」ってどうやんの?

9 :名無しのひみつ:04/09/17 01:06:27 ID:hyOb819N
>>8
今のレベルだと0.18マイクロメートルでされているけれど
結晶の選定作業をしてからチップに組み込めば 65ナノメートルまでいけますよって事でない?

10 :名無しのひみつ:04/09/17 01:18:43 ID:cdoS5HgF
>>9
いや、だからそのナノサイズの結晶をどうやって選定するんだって質問なんですが。

11 :名無しのひみつ:04/09/17 01:20:18 ID:lprOEpE8
記事書いた記者は意味わかってない、に10000ペリカ

12 :名無しのひみつ:04/09/17 01:20:41 ID:cdoS5HgF
んー、なんかまだ語弊があるかも。
記憶素子としての能力を評価できたとしてもそれを集めてLSIにするにはまた別の技術が要るんでは?
って質問でつ。

13 :名無しのひみつ:04/09/17 20:18:10 ID:4agA04NJ
>11 禿同 ただし掛け金は10のマイナス173乗アショミダ
常識的に解釈すると検査ラインの精度向上でナノスケールでも
動く保証が可能となったということなのだが、歩度まりどうなるんじゃ

14 :名無しのひみつ:04/09/18 00:48:38 ID:5WgA5sAn
強誘電体メモリーの大容量化に道を拓く強誘電体ナノ結晶の記憶能力の評価技術を開発
http://matsushita.co.jp/corp/news/official.data/data.dir/jn040914-1/jn040914-1.html

15 :名無しのひみつ:04/09/18 08:41:21 ID:VH2I4X9+
>>14
> 今後、本技術を用いて、小さくかつ記憶能力の高い強誘電体キャパシタを
> 「集積化する」技術開発を加速し、大容量のFeRAMを実現します。

やっぱり記者は意味わかってなかったか(w
要するに結晶レベルでの歩留まりを素早く評価する事で集積度を上げるための
基礎データを集めやすくなるって話だな。

16 :13:04/09/18 13:16:06 ID:irBTFnkM
>14 従来例、とあるとこまで読んでやっとわかったぞ。記者も記者なら
松下のプレスもプレスだな。
つまり、薄膜ができた時点で不良品をはねることができるようになったので
コストがかかる配線工程だの電気特性の測定だのをスキップできるめどが
ついたということのようだ。

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